100% 英偉達(dá) 的錯:黃仁勛 確認(rèn) Blackwell 缺陷修復(fù),明年初出貨 “我們的 Blackwell 芯片存在設(shè)計(jì)缺陷,雖然可以正常使用,但該設(shè)計(jì)缺陷導(dǎo)致良率低下,”黃仁勛表示。“這 100% 是英偉達(dá)的錯。”自 3 月份發(fā)布以來,全球科技公司都在瘋狂求購的 Blackwell A... 芯片 2024-10-25 0 681